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MIPI Interface - PCIe Automated Test

精確、可重複的 PCIe 量測

近二十年來,PCI Express® 科技一直是被廣泛採用的高速串列介面連接標準。最新 PCIe® 規格可滿足資料密集型的市場需求,例如人工智慧/機器學習及高效能運算。

我們的 PCIe 自動化測試解決方案,可藉由解決設定及校驗問題來大幅降低測試複雜性。這些解決方案結合低雜訊量測硬體,可達成快速、準確且可重複的量測。身為 PCI-SIG® 工作群組的現任投票成員,我們擁有發射器、接收器、參考時脈和鎖相迴路 (PLL) 驗證所需的專業知識。

PCI Express、PCIE 和 PCI-SIG 是 PCI-SIG 的註冊商標和/或服務標誌。

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PCI Express 全方位自動化測試解決方案

Fast, Easy PCIe Lane Margining

資料中心架構必須更常回應資料移動和存取需求,同時將耗電量降至最低、提高效率,支援更大型及更多元的應用。奠基於 PCIe 強大的實體層,CXL 能滿足這些需求,讓處理器能夠以高效能的方式存取同樣的記憶體資源、彼此溝通,並在單一架構上執行。Tektronix 實體層解決方案支援最快速的 CXL 資料速率 (32 Gt/s) 以及各種外形尺寸,以符合這項新興技術的需求。

TMT4 Margin Tester

行業領先的 PCIe Base 6.0 發射器和接收器測試解決方案

近期推出的 PCIe 6.0 Base 規格將頻寬與電源效率提高了一倍。PCIe 6.0 導入 PAM4 訊號傳輸與前向錯誤修正 (FEC) 等功能,以支援高資料傳輸速率 (64.0GT/s) 同時維持低延遲。Tektronix 的 PCIe 6.0 發射器 (Tx) 與接收器 (Rx) 測試解決方案,可協助工程師解決最新的設計與驗證問題。直覺式工具提供開箱即用的量測支援,包括訊號雜訊失真比 (SNDR) 和不相關的抖動以及最新規範下要求的接收器應力眼圖 TP3/TP2 校正和儀器雜訊補償。

檢視 PCIe Gen 6.0 Tx 產品規格表

檢視 PCIe Gen 6.0 Rx 產品規格表

PCIe Base 6.0 Transmitter and Receiver Test

PCIe Gen1 到 Gen5 發射器測試解決方案

我們的 PCIe 發射器測試解決方案,透過提供從 2.5 GT/s 到 32.0 GT/s (Gen1 到 Gen5) 的 PCIe 發射器驗證及合規性解決方案,來維持向後相容性。支援從早期矽電壓/時序特性到平台位準發射器及參考時脈量測的頻距。Tektronix 技術領導者透過整合所有工程變更通知 (ECN) 並支援 PCI-SIG 合規研討會作為經批准的解決方案,確保這些解決方案保持相關性。

檢視 PCIe Gen 1-5 產品規格表

檢視 PCIe Gen5 手冊

PCIe Gen1 to Gen5 Transmitter Test

PCIe 接收器與 PLL 測試解決方案

由於在高損耗通道上校驗壓力眼圖訊號需要極高的靈敏度,PCIe 接收器的驗證極為困難。Tektronix 的 PCIe 接收器測試解決方案使您確信您的設計已在所需的誤碼率 (BER) 目標下進行了全面測試。我們的直覺式分步工具為 Anritsu MP1900A BERT 提供連結訓練程序,確保您的接收器獲得準確的測試。自動化測試支援壓力眼圖校驗、最新的發射器與接收器連結等化合規性測試、自訂 BER 執行,以及抖動容差特性分析。此架構也支援簡易發射器 PLL 頻寬與峰值量測。

檢視 PCIe 接收器測試網路研討會

檢視 PCIe 接收器產品規格表

PCI Express Receiver Test Solutions

Compute Express Link (CXL)

資料中心架構必須更常回應資料移動和存取需求,同時將耗電量降至最低、提高效率,支援更大型及更多元的應用。奠基於 PCIe 強大的實體層,CXL 能滿足這些需求,讓處理器能夠以高效能的方式存取同樣的記憶體資源、彼此溝通,並在單一架構上執行。Tektronix 實體層解決方案支援最快速的 CXL 資料速率 (32 Gt/s) 以及各種外形尺寸,以符合這項新興技術的需求。

Compute Express Link (CXL) Application

其他 PCI Express 資源

PCI Express Gen6
Webinar

PCIe Gen6 PAM4 訊號網路研討會

請檢視此PCI Express Gen6驗證討論。查看使用真實實驗室資料,以 32GBaud PAM4 進行接收器測試的壓力眼圖校驗。
PCIe Gen5 Transmitter Test
技術簡介

PCIe Gen5 發射器驗證技術簡介

請閱讀我們的 PCIe Gen 5.0 簡介,瞭解測試挑戰以及用於發射器測試的 Tektronix 解決方案的概述。
PCIe Multi-Lane Testing
白皮書

PCIe Gen5 自動化多通道測試

瞭解如何跨多重差動通道對待測連結進行 PCIe Gen5 發射器 (Tx) 和接收器 (Rx) 量測。
PCI Express Gen 6.0
白皮書

PCI Express Gen 5 接收器測試網路研討會

請觀看網路研討會,聆聽 Tektronix 的 David Bouse 及 Anritsu 的 Hiroshi Saito 深入分析符合此標準的接收器測試。
PCI Express Stress Eye
Video

PCI Express Gen 5 壓力眼圖校驗示範

請觀我們對 PCIe Gen 5 接收器自動化測試解決方案和 CEM 測試應用的示範。
Skew Measurement
白皮書

PCIe 通道對通道偏移白皮書

瞭解如何以最大資料速率 32 GT/s (Gen5) 精確測量 PCIe 發射器之間的通道對通道偏移。